原位樣品桿系列產(chǎn)品在科學(xué)研究和工業(yè)領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用,研究人員可以利用這些設(shè)備進(jìn)行材料結(jié)構(gòu)、相變、生長過程、電化學(xué)反應(yīng)等方面的原位觀察,在材料性能、催化、電化學(xué),納米技術(shù)和材料合成等許多領(lǐng)域都具有廣泛的應(yīng)用。
原位樣品桿系列產(chǎn)品選型
Lightning Arctic TEM 原位冷凍熱電樣品桿是 DENSsolutions 全新升級創(chuàng)新的原位解決方案,可以在冷卻或加熱樣品的同時,對其施加可控的電學(xué)刺激,并以原子級分辨率在透射電鏡下觀察樣品的實時動態(tài)過程。
主要性能參數(shù)
1.系統(tǒng)操控模式:冷凍&加電,加熱&加電
2.可運行的溫度范圍:≤ -160 ℃ - 800 ℃
3.冷凍方式:外置液氮罐
4.卻和穩(wěn)定時間:≤ 60 min
5.分辨率:≤ 1 ?(取決于透射電子顯微鏡配置)
6.可達(dá)到的電流范圍:1 pA - 100 mA
Lightning 原位熱電樣品桿可在精確控制加電和加熱環(huán)境的同時觀察樣品變化的實時動態(tài)過程。Lightning 能夠在進(jìn)行熱學(xué)研究的同時,在 pA 電流靈敏度下進(jìn)行 I-V 測試,其搭配的 Nano-Chip 芯片能在 900 ℃ 高溫下同時實現(xiàn)高于 300 kV/cm 的電場,芯片擁有多種配置,能夠滿足不同的實驗要求,同時保持 TEM 的原子級分辨率成像能力。
主要性能參數(shù)
1.溫度范圍:RT - 1,300 °C
2.可達(dá)到的電場范圍:≥ 300 kV/cm at RT/900 °C
3.可達(dá)到的電流范圍:1 pA - 100 mA
4.可達(dá)到的分辨率:≤ 60 pm
5.分辨率:≤ 1 ?(取決于透射電子顯微鏡配置)
6.漂移率:≤ 0.5 nm/min
03 Climate TEM 原位氣相加熱樣品桿
Climate 原位氣相加熱樣品桿可在在氣氛環(huán)境下同時觀察樣品在加熱時的狀態(tài)變化,能夠在 2 bar 的氣體環(huán)境中進(jìn)行達(dá) 1000 ℃ 的高溫實驗,并保持 TEM 的原子分辨率,與 DENS 專有的氣體分析儀集成組合使用,可進(jìn)行反應(yīng)產(chǎn)物分析,是當(dāng)前市場上少有的支持結(jié)構(gòu)和化學(xué)信息動態(tài)關(guān)聯(lián)的原位系統(tǒng)。
同時為了滿足客戶研究蒸汽類反應(yīng)物對材料的影響的實驗要求,我們設(shè)計了蒸汽發(fā)生器,能夠單獨地將蒸氣添加到任何氣體混合物中,并擁有獨立控制蒸汽參數(shù)的能力,便于開展相對應(yīng)的研究,為原位實驗中提供實驗自由度。
主要性能參數(shù)
1.加熱范圍:RT - 1,000 °C
2.溫度穩(wěn)定性:≤ ± 0.01 °C
3.分辨率:≤ 100 pm(取決于透射電子顯微鏡配置)
4.漂移率:≤ 0.5 nm/min
5.氣體輸入管線:3
6.氣體流量范圍(標(biāo)準(zhǔn)化):0, 0.01-1 ml / min
Stream 原位液相加熱/加電系統(tǒng)為材料科學(xué)、化學(xué)和生物學(xué)中各類研究提供了全新的觀察視野。其設(shè)計的 Nano-Cell 芯片使其對樣品加熱或加電時可獨立控制流速和液體厚度。
同時全新升級可集合組裝的液體供應(yīng)系統(tǒng) (LSS) ,引入了精準(zhǔn)控制和可重復(fù)使用的惰性氣體吹掃能力。通過吹掃,可以迅速去除樣品中多余的液體,從而實現(xiàn)高分辨成像、有價值的元素分析和電子衍射。并且液體供應(yīng)系統(tǒng) (LSS)能夠主動測量液體流量,便于比較不同的實驗結(jié)果。此外,這意味著可以很容易地發(fā)現(xiàn)系統(tǒng)中潛在的堵塞,并迅速采取行動,能夠高效和有效地利用 TEM 機(jī)時。這些設(shè)計為原位液相實驗的原子級分辨像和高質(zhì)量的 EDS、EELS 結(jié)果帶來了新的可能性。
主要性能參數(shù)
1.溫度范圍:RT - 100 °C
2.液體模式:靜態(tài)液體、流動液體
3.液體流量測量:可測量,通過入口液體流量計
4.液體厚度控制:可控制,通過入口和出口液體壓力控制
5.可達(dá)到的分辨率 :≤ 3 ? (取決于透射電子顯微鏡配置)
6.可達(dá)到的電場范圍:1 pA - 100 mA
Wildfire 原位加熱樣品桿旨在探索材料在高溫下的反應(yīng)和狀態(tài)變化而設(shè)計,其穩(wěn)定性超越了市場上大部分的同類產(chǎn)品,溫度范圍高可達(dá) 1300 ℃,并在所有的方向上保證優(yōu)異的溫度控制性和樣品穩(wěn)定性,確保了在高溫下觀察樣品動態(tài)變化過程,且 TEM 保持較高的分辨率和分析性能。
Nano Chip 芯片和四點探針法可快速反饋溫度變化情況,從而實現(xiàn)即時穩(wěn)定和精確的溫度控制,避免出行加熱不均勻或熱反饋不及時的問題。對于需要進(jìn)行高溫下三維重構(gòu)研究的客戶,可選擇配備了 α 傾轉(zhuǎn)角高達(dá) 70° 的樣品桿,以便進(jìn)行多方位的研究。
主要性能參數(shù)
1.加熱控制:四探針法
2.溫度范圍:RT - 1,300 °C
3.溫度均勻性:≥ 99.5 %
4.分辨率:≤ 60 pm(取決于透射電子顯微鏡配置)
5.漂移率:≤ 0.5 nm/min
6.視野范圍:850 µm2
Impulse 軟件讓研究人員可以控制實驗條件,只需在電腦上設(shè)置好所需的原位觀測實驗條件,Impulse 將完成剩下的工作。在原位 TEM 實驗期間,軟件將根據(jù)設(shè)置好的條件進(jìn)行實驗驗證過程,而您只需專注于實驗結(jié)果,同時軟件上可以存儲您的實驗設(shè)計,以便重現(xiàn)實驗過程。
軟件特征和優(yōu)勢:
01.智能自動化:在實驗過程中,您可以專注于其他事情,而智能自動化會跟蹤測量結(jié)果并確保滿足所設(shè)置的樣品條件。
02.靈活的數(shù)據(jù)儀表板:Impulse 在排列和調(diào)整圖表大小方面為您提供了極大的靈活性,可輕松掌握任何數(shù)據(jù)細(xì)節(jié)。
03.數(shù)據(jù)整合:軟件支持將您的原位環(huán)境條件實驗數(shù)據(jù)與其他數(shù)據(jù)同步,并在幾秒鐘內(nèi)為您的相機(jī)和探測器圖像提供環(huán)境條件注釋。
04.實驗自由:Impulse 軟件支持您使用自己創(chuàng)建的 Python 腳本進(jìn)行實驗控制。您可以選擇創(chuàng)建自己的腳本,或者使用我們的預(yù)制腳本,甚至可以在線訪問數(shù)千個 Python 模塊。這種實驗自由將使您能夠擴(kuò)展研究范圍并開展您的創(chuàng)造性實驗控制。
DENSsolutions 現(xiàn)在推出了第三代 FIB 制樣樣品臺,此設(shè)備可以幫助您更簡單、更安全、更快捷地制備薄片樣品,且適配 DENS 樣品桿芯片。
TEM 樣品制樣設(shè)備
Technoorg Linda 的主要產(chǎn)品包括離子研磨儀、離子減薄儀、離子精修儀和樣品制備相關(guān)的配件和耗材。其產(chǎn)品可配備了超高能離子槍和低能離子槍,通過控制離子束的能量和角度,可對樣品進(jìn)行快速研磨及表面精細(xì)加工和拋光。Technoorg Linda 系列離子束樣品制備儀器是先進(jìn)的樣品制備工具之一,廣泛應(yīng)用于電子顯微鏡、X 射線衍射、能譜分析和納米技術(shù)等領(lǐng)域。
Unimill 離子減薄儀:用于 TEM/XTEM 樣品制備的全自動離子束減薄系統(tǒng)
Gentle Mill 離子精修儀:用于制備高質(zhì)量 TEM/FIB 樣品的離子束工作站
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