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掃描電鏡運(yùn)用領(lǐng)域十分寬廣

 更新時間:2018-10-27 點(diǎn)擊量:2027
   掃描電鏡運(yùn)用領(lǐng)域十分寬廣
   掃描電鏡的高性能、 高質(zhì)量、高可靠性和穩(wěn)定性已得到世界范圍內(nèi)廣大用戶的信賴與認(rèn)可。
   掃描電鏡廣泛地應(yīng)用于金屬材料(鋼鐵、冶金、有色、機(jī)械加工)和非金屬材料(化學(xué)、化工、石油、地質(zhì)礦物學(xué)、橡膠、紡織、水泥、玻璃纖維)等 檢驗和研究。在材料科學(xué)研究、金屬材料、陶瓷材料、半導(dǎo)體材 料、化學(xué)材料等領(lǐng)域進(jìn)行材料的微觀形貌、組織、成分分析,各種材料的形貌組織觀察,材料斷口分析和失效分析,材料實時微區(qū)成分分析,元素定量、定性成分分析,快速的多元素面掃描和線掃描分布測量,晶體、晶粒的相鑒定,晶粒尺寸、形狀分析,晶體、晶粒取向測量。
   掃描電鏡適用于對低頻振動較為靈敏的儀器,例如建筑物和樓層振動、光學(xué)平臺晃動帶來的低頻振動,使用隔震平臺,可使其降至傳統(tǒng)隔離設(shè)備如氣墊隔振所未能達(dá)到的水平,從而使得對這些振動較為敏感的儀器或設(shè)備 以穩(wěn)定的狀態(tài)運(yùn)行。掃描電鏡優(yōu)異的隔振效果使其應(yīng)用范圍非常廣泛,適用于所有需要進(jìn)行隔振的實驗平臺,目前為止,已應(yīng)廣泛用在包括納米技術(shù)、生物科學(xué)、半導(dǎo)體、材料研究、航天器零重力模擬以及音頻等領(lǐng)域。
   掃描電鏡設(shè)計新穎*,稱為GEMINI鏡筒。在光源與樣品之間,入射電子束不形成交叉點(diǎn),這與其它掃描電鏡明顯不同。入射電子束無交叉點(diǎn)光學(xué)設(shè)計的作用在于:⑴降低入射電子束之間的庫侖統(tǒng)計相互作用(減 少電子碰撞,降低色差);⑵降低外部環(huán)境雜散磁場對入射電子束的影響。因此,GEMINI鏡筒設(shè)計確保了入射電子束的亮度及圖像分辨率。特別在低入射能量應(yīng)用時,上述作用尤為重要。
   掃描電鏡標(biāo)配所有的接口,可以兼容市場上所有的電鏡相關(guān)附件,如:能譜儀、波譜儀、EBSD、CL、冷凍臺、拉伸臺、等離子清洗裝置等,后續(xù)升級沒有任何障礙。
 

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