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機(jī)器的小故障有時(shí)會(huì)導(dǎo)致zui終產(chǎn)品受到污染。金屬顆粒可以從機(jī)器的運(yùn)動(dòng)部件中分離出來，因?yàn)樗鼤?huì)在產(chǎn)品上產(chǎn)生摩擦和沉積，有時(shí)會(huì)降低產(chǎn)品質(zhì)量。這篇博客描述了的一項(xiàng)技術(shù)，不僅可以檢查污染的存在，而且還可以識(shí)別它的起源。

搜尋和消除：產(chǎn)品污染

無(wú)論是生產(chǎn)食品、電子設(shè)備還是冶金部件，精密機(jī)械的引進(jìn)使生產(chǎn)過程變得工業(yè)化和自動(dòng)化。這些機(jī)器有的壽命較短，有時(shí)在一定的操作時(shí)間后就會(huì)產(chǎn)生缺陷，因?yàn)樗鼈兪怯山到獠牧现瞥傻模虼藭?huì)產(chǎn)生小顆粒。

這些微粒zui終會(huì)沉積在產(chǎn)品上，污染食物，可能會(huì)產(chǎn)生有毒金屬。它們可能損壞探測(cè)器或印刷電路板（PCB），甚至成為氧化過程的起源，這將損害機(jī)械部件的使用效率。

因此，關(guān)鍵不只是檢測(cè)這些粒子，還要追蹤它們的來源，這樣生產(chǎn)線上的操作人員就可以消除這個(gè)問題。根據(jù)污染顆粒的性質(zhì)和大小，有幾種調(diào)查方法可供選擇。一些技術(shù)被證明是更有效的，因?yàn)樗麄兂浞掷昧瞬牧系幕瘜W(xué)和物理性質(zhì)進(jìn)行分析。

電子顯微鏡檢測(cè)粒子

對(duì)小型工業(yè)來說，電子顯微鏡的出現(xiàn)，揭示了一種全新的檢測(cè)污染的方法，一種比以往使用的方法更有效和準(zhǔn)確的方法。。掃描電鏡目前在使用便捷性，分析速度方面有巨大的改善，臺(tái)式掃描電鏡以更低的使用成本獲得了小型企業(yè)用戶的青睞。

通過使用掃描電鏡（SEM）的背散射電子探測(cè)器（BSD），可以產(chǎn)生樣品和粒子的高倍放大圖， 不同的對(duì)比度突顯出不同的成分。

圖1：香蕉中金屬顆粒污染的掃描電鏡（SEM）圖像（亮區(qū)）和帶塵埃的PCB表面（暗區(qū)）。不同的成分立即可見，具體的分析可以從可疑的區(qū)域開始。

因此，只要簡(jiǎn)單地掃描樣品表面，就可以檢測(cè)到數(shù)十納米的所有粒子。

這個(gè)過程有助于識(shí)別污染的存在，但這并不是掃描電鏡（SEM）能夠提供的*信息!

SEM和EDS：化學(xué)成分分析儀器

電子顯微鏡實(shí)際上可以配備能量色散X射線譜儀（EDS）。這意味著在幾秒鐘內(nèi)，同樣的設(shè)備可以提供和分析樣品的準(zhǔn)確化學(xué)成分。

這種分析的結(jié)果可以進(jìn)一步用來確定污染物的來源（例如，在生產(chǎn)線中使用的一種非常特殊的鋼或塑料），并有選擇地修復(fù)導(dǎo)致污染的機(jī)器部件。在幾分鐘內(nèi)，產(chǎn)品的質(zhì)量可以提高到正常的標(biāo)準(zhǔn)，并優(yōu)化生產(chǎn)線。

關(guān)于EDS的更多信息

如果想在掃描電子顯微鏡中更深入地研究EDS，可以看看以下產(chǎn)品介紹——飛納臺(tái)式掃描電鏡能譜一體機(jī)Phenom ProX。